检索到 23 条 分类号=TN407 的结果
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中文图书1.伪集成电路检测与防护 TN407/14
馆藏复本：2
可借复本：1 (美)马克(穆罕默德)·德黑兰尼普尔(Mark (Mohammad) Tehranipoor)，(美)乌杰瓦尔·吉恩(Ujjwal Guin)，(...
国防工业出版社 2022
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中文图书2.集成电路测试基础 TN407/13
馆藏复本：2
可借复本：1 谷颜秋主编
电子工业出版社 2022
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中文图书3.可测性设计与智能故障诊断 TN407/12
馆藏复本：3
可借复本：2 林海军著
机械工业出版社 2022
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中文图书4.集成电路测试指南 TN407/11
馆藏复本：2
可借复本：1 加速科技组编
机械工业出版社 2021
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中文图书5.集成电路验证 TN407/10
馆藏复本：2
可借复本：1 沈海华, 张锋, 乐翔著
科学出版社 2019
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中文图书6.芯片验证漫游指南:从系统理论到UVM的验证全视界 TN407/9
馆藏复本：2
可借复本：1 刘斌著
电子工业出版社 2018
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俄文图书7.Измерение параметров интегральных цап и ацп TN407/R1
馆藏复本：4
可借复本：4 Г. П. Шльков
Издательство c1985.
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中文图书8.集成电路认证:硬件木马与伪芯片检测:hardware trojans and counterfeit detection TN407/8
馆藏复本：3
可借复本：2 (美) Mohammad Tehranipoor, Hassan Salmani, Xuehui Zhang著
国防工业出版社 2016
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中文图书9.单板级JTAG测试技术 TN407/7
馆藏复本：4
可借复本：3 王承, 刘治国编著
国防工业出版社 2015
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中文图书10.集成电路芯片测试 TN407/6
馆藏复本：4
可借复本：3 主编王芳, 徐振
浙江大学出版社 2014
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中文图书11.物联网测控集成电路 TN407/5
馆藏复本：2
可借复本：1 赵负图主编
化学工业出版社 2014
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中文图书12.系统芯片(SoC)验证方法与技术 TN407/4
馆藏复本：6
可借复本：6 (美)Prakash Rashinkar, (美)Peter Paterson,(美)Leena Singh著
电子工业出版社 2005
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日文图书13.ICテスタの现状と测定技术 TN407/J1
馆藏复本：1
可借复本：1 沼田榮一著
東英工業株式会社 1972
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中文图书14.微电子测试结构 TN407/2
馆藏复本：5
可借复本：5 孙沩等编
华东师范大学出版社 1984.11
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中文图书15.数字式线路故障测试仪 TN407/1
馆藏复本：5
可借复本：5 谭必温等编著
人民邮电出版社 1987.3
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中文图书16.音响、电视集成电路的检测与修理 TN407/3
馆藏复本：2
可借复本：2 高雨春等编著
中国广播电视出版社 1989.7
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西文图书17.Developments in integrated circuit testing TN407/1E
馆藏复本：1
可借复本：1 D. M. Miller, editor.
Academic Press Limited c1987.
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西文图书18.Integrated circuit metrology, inspection, and process control IV : 5-6 March 1990, San Jose, Califor TN407-53/E1:4(89)
馆藏复本：1
可借复本：1 William H. Arnold, chair/editor ; sponsored by SPIE-the International Society for Optical Engineerin
SPIE, c1990.
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中文图书19.常用集成电路实测数据手册 TN407-62/3
馆藏复本：6
可借复本：6 蒋颂军，何晓帆主编
化学工业出版社 2005
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中文图书20.家用电器集成电路简易测试手册 TN407-62/1
馆藏复本：1
可借复本：1 雷启元编著
科学技术文献出版社重庆分社 1989.03
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