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题名/责任者:

伪集成电路检测与防护/(美)马克(穆罕默德)·德黑兰尼普尔(Mark (Mohammad) Tehranipoor)，(美)乌杰瓦尔·吉恩(Ujjwal Guin)，(美)多梅尼克·福特(Domenic Forte)著 李雄伟[等]译

出版发行项:

北京:国防工业出版社,2022

ISBN及定价:

978-7-118-12500-9 精装/CNY125.00

载体形态项:

20,227页:图;24cm

并列正题名:

Counterfeit integrated circuits:detection and avoidance

个人责任者:

(美) 德黑兰尼普尔 (Tehranipoor, Mark Mohammad) 著

个人责任者:

(美) 吉恩 (Guin, Ujjwal) 著

个人责任者:

(美) 福特 (Forte, Domenic) 著

个人次要责任者:

李雄伟 译

学科主题:

集成电路-检测

中图法分类号:

TN407

一般附注:

装备科技译著出版基金 Springer

版本附注:

由Springer授权出版

提要文摘附注:

本书从伪集成电路的案例分析、分类、缺陷特征、物理检测和电子检测、防伪设计等多个方面进行了研究和阐述。

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