MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：33
- 题名/责任者:
- 单板级JTAG测试技术/王承, 刘治国编著
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2015
- ISBN及定价:
- 978-7-118-09986-7/CNY58.00
- 载体形态项:
- X, 205页:图;21cm
- 个人责任者:
- 王承, 1976- 编著
- 个人责任者:
- 刘治国, 1977- 编著
- 学科主题:
- 集成电路-测试技术
- 中图法分类号:
- TN407
- 书目附注:
- 有书目 (第204-205页)
- 提要文摘附注:
- 本书是一本系统论述单板级JTAG测试技术的专著。内容包括: 基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串心测试矢量 ; 内建自测试和仿真测试 ; 基于IEEE1687标准的集成电路测试技术发展趋势。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN407/7 | CN1433555 | - |  内阅图书
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| TN407/7 | CN1433556 | - | 未央馆
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