MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：38
- 题名/责任者:
- 集成电路芯片测试/主编王芳, 徐振
- 出版发行项:
- 杭州:浙江大学出版社,2014
- ISBN及定价:
- 978-7-308-12976-3/CNY29.00
- 载体形态项:
- 182页:图;24cm
- 个人责任者:
- 王芳 主编
- 个人责任者:
- 徐振 主编
- 学科主题:
- 集成电路-芯片-测试
- 中图法分类号:
- TN407
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书主要集成电路测试从业人员所需的职业道德、C语言、自动分选机、测试机系统及应用以及常用的仪器元件、常见产品测试实例等几个方面着手，比较系统地阐述了成品测试的重要组成步骤，是微电子专业学生进行集成电路测试岗位培训提供必要的知识。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN407/6 | CN1416211 | - |  内阅图书
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