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题名/责任者:

Characterization in silicon processing = 硅加工中的表征 / [editor], Yale E. Strausser.

出版发行项:

哈尔滨 : Harbin Institute of Technology Press, 2014.

ISBN:

9787560342801 (pbk.)

载体形态项:

xv, 240 p. : ill. ; 23 cm.

变异题名:

硅加工中的表征

丛编说明:

Materials characterization series

丛编说明:

材料表征原版系列丛书

附加个人名称:

Strausser, Yale.

论题主题:

Electric conductors.

论题主题:

Semiconductor films.

论题主题:

Silicon.

论题主题:

Surface chemistry.

中图法分类号:

TN304.1

书目附注:

Includes bibliographical references and index.

原版附注:

Reprint. Originally published: New York : Momentum Press, 2010. 9781606501092.

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