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检索到 2 条 责任者=Strausser, Yale. 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Characterization in compound semiconductor processing = 化合物半导体加工中的表征 / TN304.2/E1

    馆藏复本：4
    可借复本：0     [editors], Gary E. McGuire, Yale E. Strausser.
    Harbin Institute of Technology Press, 2014.
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Characterization in silicon processing = 硅加工中的表征 / TN304.1/E1

    馆藏复本：4
    可借复本：0     [editor], Yale E. Strausser.
    Harbin Institute of Technology Press, 2014.
    (0) 馆藏

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