-
中文图书1.半导体器件可靠性技术 TN306/4
馆藏复本:1
可借复本:1 (日)安食恒雄主编
西安电子科技大学出版社 1991
(0) 馆藏 -
中文图书2.半导体器件可靠性 TN306/1
馆藏复本:19
可借复本:19 本书编写组编著
国防工业出版社 1978
(0) 馆藏 -
中文图书3.半导体器件可靠性与失效分析 TN306/2
馆藏复本:13
可借复本:13 卢其庆著
江苏科学技术出版社 1981
(0) 馆藏