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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:18

题名/责任者:
半导体器件可靠性/本书编写组编著
出版发行项:
北京:国防工业出版社,1978
ISBN及定价:
/CNY0.94
载体形态项:
372页;20cm
团体责任者:
本书编写组 编著
中图法分类号:
TN306
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