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中文图书1.半导体器件可靠性技术 TN306/4
馆藏复本：1
可借复本：1 (日)安食恒雄主编
西安电子科技大学出版社 1991
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中文图书2.半导体器件可靠性与失效分析 TN306/2
馆藏复本：13
可借复本：13 卢其庆著
江苏科学技术出版社 1981
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中文图书3.半导体器件及电路的可靠性与退化 TN306/3
馆藏复本：8
可借复本：8 (英)豪斯,M.J.摩根,D.V主编
科学出版社 1989.10
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中文图书4.半导体器件可靠性 TN306/1
馆藏复本：19
可借复本：19 本书编写组编著
国防工业出版社 1978
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