MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：22
- 题名/责任者:
- 半导体器件可靠性与失效分析/卢其庆著
- 出版发行项:
- 南京:江苏科学技术出版社,1981
- ISBN及定价:
- /CNY1.70
- 载体形态项:
- 278页:图;26cm
- 个人责任者:
- 卢其庆 著
- 中图法分类号:
- TN306
- 一般附注:
- 高等学校试用教材
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN306/2 | 037652 |  密集库（507）
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| TN306/2 | 037653 | 密集库（507）
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