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中文图书1.SoC设计和测试技术:理论与实践 TN402/43
馆藏复本:3
可借复本:2 刘文松...[等]编著
东南大学出版社 2016
(0) 馆藏 -
中文图书2.集成电路芯片测试 TN407/6
馆藏复本:4
可借复本:3 主编王芳, 徐振
浙江大学出版社 2014
(0) 馆藏
馆藏复本:3
可借复本:2 刘文松...[等]编著
东南大学出版社 2016
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馆藏复本:4
可借复本:3 主编王芳, 徐振
浙江大学出版社 2014
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