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题名/责任者:

SoC设计和测试技术:理论与实践/刘文松...[等]编著

出版发行项:

南京:东南大学出版社,2016

ISBN及定价:

978-7-5641-6780-6/CNY39.00

载体形态项:

185页:图;24cm

个人责任者:

刘文松 编著

个人责任者:

朱恩 编著

个人责任者:

赵春光 编著

学科主题:

集成电路-芯片-设计

学科主题:

集成电路-芯片-测试

中图法分类号:

TN402

题名责任附注:

题名页题: 刘文松, 朱恩, 赵春光, 徐勇, 欧乐庆等编著

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书系统讲解了SoC设计与测试技术所涉及的基础理论和工程实践。基础理论部分, 内容涵盖了硬件描述语言、可编程逻辑器件、逻辑综合、自动布局布线等内容。工程实践部分, 基于ARM平台讲解SoC系统设计和测试方法。

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