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题名/责任者:

光学测量的条纹分析:理论、算法与应用/(墨)塞尔文(M. Servin)，(西)基罗加(J. A. Quiroga)，(墨)帕迪利亚(J. M. Padilla)著 杜虎兵[等]译

出版发行项:

西安:西安交通大学出版社,2020

ISBN及定价:

978-7-5605-9292-3/CNY58.00

载体形态项:

249页:图，照片;26cm

并列正题名:

Fringe pattern analysis for optical metrology:theory, algorithms, and applications

个人责任者:

(墨) 塞尔文 (Servin, M.) 著

个人责任者:

(西) 基罗加 (Quiroga, J. A.) 著

个人责任者:

(墨) 帕迪利亚 (Padilla, J. M.) 著

个人次要责任者:

杜虎兵 译

学科主题:

光学测量

中图法分类号:

TB96

提要文摘附注:

本书分六章，内容包括：数字线性系统、同步时域干涉术、异步时域干涉术、空域载波解调方法、空域无载波解调方法、相位去包裹。

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