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中文图书1.光学测量的条纹分析:理论、算法与应用:theory, algorithms, and applications TB96/3
馆藏复本:2
可借复本:0 (墨)塞尔文(M. Servin),(西)基罗加(J. A. Quiroga),(墨)帕迪利亚(J. M. Padilla)著
西安交通大学出版社 2020
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中文图书2.电与磁 G634.7/14
馆藏复本:4
可借复本:4 帕迪利亚
浙江教育出版社 2003
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中文图书3.高性能PHP应用开发 TP312PH/73
馆藏复本:3
可借复本:2 (美) Armando Padilla, Tim Hawkins著
人民邮电出版社 2011
(0) 馆藏