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中文图书1.光学测量的条纹分析:理论、算法与应用:theory, algorithms, and applications TB96/3
馆藏复本：2
可借复本：0 (墨)塞尔文(M. Servin)，(西)基罗加(J. A. Quiroga)，(墨)帕迪利亚(J. M. Padilla)著
西安交通大学出版社 2020
(0) 馆藏
