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检索到 2 条 主题词=Speckle metrology 的结果    

 


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  1. 西文图书1.Applications of speckle phenomena : July 29-30, 1980, San Diego, California / O436-53/E1:(80)

    馆藏复本：1
    可借复本：1     William H. Carter, editor.
    Society of Photo-optical Instrumentation Engineers, c1980.
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.2nd European Congress on Optics Applied to Metrology (METROP) : presented as part of the Optics, Pho TB9-53/E2:(79)

    馆藏复本：3
    可借复本：3     editors, Michel Grosmann, Patrick Meyrueis ; organized by European Photonics Association in collabor
    Society of Photo-optical Instrumentation Engineers, c1980.
    (0) 馆藏

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