西安工业大学图书馆书目检索系统

| 暂存书架(0) | 登录

检索到 2 条 分类号=TP304-53 的结果    

 


所有图书 可借图书

  1. 西文图书1.1978 Semiconductor Test Conference : digest of papers, Cherry Hill, N.J., Oct. 31, Nov 1-2, 1978 / TN304-53/E6

    馆藏复本：1
    可借复本：1     sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Committee and the Phila. Section of the IEEE.
    IEEE, 1978.
    (0) 馆藏

  2. 西文图书2.Shape-memory materials and phenomena--fundamental aspects and applications : symposium held December TP304-53/1:(91)E

    馆藏复本：1
    可借复本：1     editors, C.T. Liu ... [et al.].
    Materials Research Society, c1992.
    (0) 馆藏

返回顶部