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MARC状态:已编 文献类型:西文图书 浏览次数:20

题名/责任者:
1978 Semiconductor Test Conference : digest of papers, Cherry Hill, N.J., Oct. 31, Nov 1-2, 1978 / sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Committee and the Phila. Section of the IEEE.
出版发行项:
Long Beach : IEEE, 1978.
载体形态项:
301 p. : ill.
会议名称:
Semiconductor Test Conference (1978 : Cherry Hill, N.J.)
附加团体名称:
Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section.
附加团体名称:
IEEE Computer Society. Test Technology Committee.
中图法分类号:
TP304-53
书目附注:
Includes bibliographical references.
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN304-53/E6 700001117   西文     可借 西文
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