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中文图书1.先进倒装芯片封装技术 TN43/17
馆藏复本:2
可借复本:1 唐和明, 赖逸少, (美) 汪正平主编
化学工业出版社 2017
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中文图书2.可靠性物理与工程:失效时间模型:time-to-failure modeling TB114.2/28
馆藏复本:5
可借复本:4 (美) J.W. 麦克弗森著
科学出版社 2013
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中文图书3.材料力学 TB301/152
馆藏复本:4
可借复本:2 秦飞编著
科学出版社 2012
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