MARC状态：已编 文献类型：西文图书 浏览次数：25
- 题名/责任者:
- Testing for the 80's / 1980 Test Conference, Franklin Plaza Hotel, Philadelphia, Nov. 11, 12, 13, 1980.
- 出版发行项:
- New York : IEEE, 1980.
- 载体形态项:
- 507 p. : ill.
- 附加非控制题名:
- Test conference.
- 会议名称:
- International Test Conference (1980 : Philadelphia, Pa.)
- 论题主题:
- Automatic checkout equipment-Congresses.
- 论题主题:
- Integrated circuits-Testing-Congresses.
- 中图法分类号:
- TP306-53
- 书目附注:
- Includes bibliographical references.
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TP306-53/E1:(80) | 700009646 |  西文密集
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可借 | 西文密集 | |
| TP306-53/E1:(80) | 700009647 | 西文密集
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可借 | 西文密集 |
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