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题名/责任者:

集成电路测试基础/谷颜秋主编 佛山市联动科技股份有限公司编著

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2022

ISBN及定价:

978-7-121-43802-8/CNY100.00

载体形态项:

10,320页:图;26cm

丛编项:

集成电路产业知识赋能工程系列丛书

个人责任者:

谷颜秋 主编

团体次要责任者:

佛山市联动科技公司 编著

学科主题:

集成电路-电路测试

中图法分类号:

TN407

提要文摘附注:

本书共15章，内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响，自动测试设备(ATE) V/I源的基本原理和实际应用限制，一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法，测试数据分析的常用方法，以及测试电路相关的信号完整性方面的介绍，并讲解了集成电路测试项目开发流程。

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