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题名/责任者:

集成电路测试指南/加速科技组编 邬刚, 王瑞金, 包军林编著

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2021

ISBN及定价:

978-7-111-68392-6/CNY99.00

载体形态项:

XIII, 257页:图;24cm

个人责任者:

邬刚 编著

个人责任者:

王瑞金 编著

个人责任者:

包军林 编著

团体次要责任者:

加速科技 组编

学科主题:

集成电路-电路测试-指南

中图法分类号:

TN407

提要文摘附注:

本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。本书最大的特点是理论与实践的相结合，避免了“纸上谈兵”。通过本书的学习，读者可以对集成电路测试有一个全面的认识，快速进入半导体集成电路测试工程领域。

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