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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:23

题名/责任者:
PCB失效分析技术/陈蓓编著
出版发行项:
北京:科学出版社,2018
ISBN及定价:
978-7-03-058917-0/CNY88.00
载体形态项:
150页:图;24cm
个人责任者:
陈蓓 编著
个人责任者:
靳婷 编著
个人责任者:
李志东 编著
学科主题:
印刷电路-计算机辅助设计-应用软件
中图法分类号:
TN410.2
题名责任附注:
题名页题其余责任者: 靳婷, 李志东, 周波
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书内容来自我国先进印制电路制造企业,是一群长期从事PCB失效分析的资深工程师的经验总结。作者以常见失效模式为切入点,针对分层起泡、可焊性不良、键合不良、导通不良和绝缘不良等,归纳出了失效机理、失效分析思路、失效分析案例。<BR>  全书共8章,主要内容包括常用分析技术、PCB分层失效分析、PCB可焊性失效分析、PCB金线键合失效分析、PCB导通失效分析、PCB绝缘失效分析、孔环裂纹失效分析案例和烧板失效分析案例。
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TN410.2/210 CN1767183   内阅图书     阅览 内阅图书
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