MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:26
- 题名/责任者:
- PCB失效分析技术/陈蓓编著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2018
- ISBN及定价:
- 978-7-03-058917-0/CNY88.00
- 载体形态项:
- 150页:图;24cm
- 个人责任者:
- 陈蓓 编著
- 个人责任者:
- 靳婷 编著
- 个人责任者:
- 李志东 编著
- 学科主题:
- 印刷电路-计算机辅助设计-应用软件
- 中图法分类号:
- TN410.2
- 题名责任附注:
- 题名页题其余责任者: 靳婷, 李志东, 周波
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书内容来自我国先进印制电路制造企业,是一群长期从事PCB失效分析的资深工程师的经验总结。作者以常见失效模式为切入点,针对分层起泡、可焊性不良、键合不良、导通不良和绝缘不良等,归纳出了失效机理、失效分析思路、失效分析案例。<BR> 全书共8章,主要内容包括常用分析技术、PCB分层失效分析、PCB可焊性失效分析、PCB金线键合失效分析、PCB导通失效分析、PCB绝缘失效分析、孔环裂纹失效分析案例和烧板失效分析案例。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
TN410.2/210 | CN1767183 | 内阅图书 | 阅览 | 内阅图书 | |
TN410.2/210 | CN1767184 | 未央馆 | 可借 | 未央馆 |
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