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题名/责任者:

半导体器件可靠性技术/(日)安食恒雄主编 日本松下电子工业株式会社编

出版发行项:

西安:西安电子科技大学出版社,1991

ISBN及定价:

7-5606-0166-9/CNY7.15

载体形态项:

352页:图;20cm

个人责任者:

安食恒雄 主编

个人次要责任者:

周南生 译

团体次要责任者:

日本松下电子工业株式会社 编

学科主题:

半导体器件-电子产品可靠性

中图法分类号:

TN306

科图法分类号:

73.7314

责任者附注:

安食恒雄，日本松下电子工业株式会社半导体事业本部质量技术部部长

提要文摘附注:

本书论述了影响半导体分立器件和集成电路可靠性问题的各种因素及其解决办法，并对正在研究的课题也作了介绍。

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