MARC状态:审校 文献类型:西文图书 浏览次数:55
- 题名/责任者:
- Characterization in compound semiconductor processing = 化合物半导体加工中的表征 / [editors], Gary E. McGuire, Yale E. Strausser.
- 出版发行项:
- 哈尔滨 : Harbin Institute of Technology Press, 2014.
- ISBN:
- 9787560342818 (pbk.)
- 载体形态项:
- xvi, 199 p. : ill. ; 23 cm.
- 变异题名:
- 化合物半导体加工中的表征
- 附加个人名称:
- Strausser, Yale.
- 附加个人名称:
- McGuire, G. E.
- 论题主题:
- Compound semiconductors.
- 论题主题:
- Compound semiconductors-Surfaces.
- 中图法分类号:
- TN304.2
- 书目附注:
- Includes bibliographical references and index.
- 原版附注:
- Reprint. Originally published: New York : Momentum Press, 2010. 9781606500415.
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
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