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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:36

题名/责任者:
单板级JTAG测试技术/王承, 刘治国编著
出版发行项:
北京:国防工业出版社,2015
ISBN及定价:
978-7-118-09986-7/CNY58.00
载体形态项:
X, 205页:图;21cm
个人责任者:
王承, 1976- 编著
个人责任者:
刘治国, 1977- 编著
学科主题:
集成电路-测试技术
中图法分类号:
TN407
书目附注:
有书目 (第204-205页)
提要文摘附注:
本书是一本系统论述单板级JTAG测试技术的专著。内容包括: 基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串心测试矢量 ; 内建自测试和仿真测试 ; 基于IEEE1687标准的集成电路测试技术发展趋势。
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