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- 题名/责任者:
- Testing in the 1980's / 1981 International Test Conference, Philadelphia at the Franklin Plaza Hotel, Oct. 27-29, 1981.
- 出版发行项:
- New York : IEEE, 1981.
- 载体形态项:
- 568 p. : ill.
- 附加非控制题名:
- Test conference.
- 会议名称:
- International Test Conference (1981 : Philadelphia, Pa.)
- 论题主题:
- Automatic checkout equipment-Congresses.
- 论题主题:
- Integrated circuits-Testing-Congresses.
- 中图法分类号:
- TP306-53
- 书目附注:
- Includes bibliographical references.
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TP306-53/E1:(81) | 700009109 |  西文密集
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可借 | 西文密集 | |
| TP306-53/E1:(81) | 700009642 | 西文密集
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可借 | 西文密集 | |
| TP306-53/E1:(81) | 700009643 | 西文密集
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| TP306-53/E1:(81) | 700009644 | 西文密集
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| TP306-53/E1:(81) | 700009645 | 西文密集
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可借 | 西文密集 |
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