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MARC状态:已编 文献类型:西文图书 浏览次数:36

题名/责任者:
Digital systems testing and testable design = 数字系统测试和可测性设计 / Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman.
出版发行项:
北京 : 清华大学出版社, c2004.
ISBN:
7302077479
载体形态项:
xvii, 652 p. : ill. ; 26 cm.
变异题名:
数字系统测试和可测性设计
丛编题名:
国外大学优秀教材. 微电子类系列
个人责任者:
Abramovici, Miron.
附加个人名称:
Friedman, Arthur D.
附加个人名称:
Breuer, Melvin A.
论题主题:
Digital integrated circuits-Design and construction.
论题主题:
Digital integrated circuits-Testing.
中图法分类号:
TN431.2
书目附注:
Includes bibliographical references and index.
原版附注:
Reprint. Originally published: New York, NY : John Wiley Sons Inc., c1990. Revised printing.
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