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题名/责任者:

分析晶体缺陷的电子显微术/(（美）)M.H.洛雷托, R.E.（美）著 康振川、王桂金译

出版发行项:

上海:上海科学技术出版社,1979

ISBN及定价:

/CNY0.46

载体形态项:

111页:图;20cm

个人责任者:

（美） 洛雷托 M.H. 著

个人责任者:

（美） 斯莫尔曼 R.E. 著

个人次要责任者:

康振川、王桂金 译

中图法分类号:

TN153

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