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• 200 1_ |a 分析晶体缺陷的电子显微术 |9 fenxijingtiquexiandedianzixianweishu |f (（美）)M.H.洛雷托, R.E.（美）著 |g 康振川、王桂金译

• 210 __ |a 上海 |c 上海科学技术出版社 |d 1979

• 215 __ |a 111页 |c 图 |d 20cm

• 690 __ |a TN153 |v 4版

• 701 _1 |c （美） |a 洛雷托 |b M.H. |4 著 |9 luoleituo

• 701 _1 |a （美） |a 斯莫尔曼 |b R.E. |4 著 |9 （mei）

• 702 _0 |a 康振川、王桂金 |4 译 |9 kangzhenchuan、wangguijin

• 801 _0 |a CN |b 261060 |c 20060523

• 905 __ |a XATU |d TN153/4

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