MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：25
- 题名/责任者:
- 半导体器件及电路的可靠性与退化/(英)豪斯,M.J.摩根,D.V主编 李锦林等译
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,1989.10
- ISBN及定价:
- 平装/16.40元
- 载体形态项:
- 463页;20cm
- 个人主要责任者:
- 豪斯,M.J. 主编
- 个人责任者:
- 摩根,D.V. 主编
- 个人次要责任者:
- 李锦林等 译
- 中图法分类号:
- TN306
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN306/3 | 170054 |  内阅图书
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| TN306/3 | 170053 | 未央馆
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| TN306/3 | 173028 | 未央馆
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| TN306/3 | 173029 | 未央馆
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| TN306/3 | 173031 | 未央馆
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| TN306/3 | 173032 | 未央馆
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| TN306/3 | 170055 | 金花馆
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| TN306/3 | 173030 | 金花馆
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