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• 099 __ |a CAL 022000313644

• 111 2_ |a Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces |d (1983 : |c Paris, France)

• 245 10 |a Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces = |b Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis : 7-10 juin 1983, Paris, France.

• 246 18 |a Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis

• 260 __ |a Les Ulis Cedex, France : |b ?ditions de physique, |c 1983.

• 300 __ |a xviii, 533 p. : |b ill. ; |c 26 cm.

• 490 1_ |a Journal de physique, |x 0449-1947 ; |v t. 44, colloque C-10, supplément au no 12, Décembre 1983

• 500 __ |a "Europhysics journal."

• 504 __ |a Includes bibliographical references and index.

• 650 _0 |a Ellipsometry |v Congresses.

• 830 _0 |a Journal de physique. |p Colloque ; |v 1983, C10.

• 905 __ |a XATU |d O29/E18

• 920 __ |a 261060 |z 1

• 950 __ |a 261060 |f O29/E18

• 991 __022005000089

• 999 __ |t C |A shenxiaoyan |a 20050106 14:35:49 |M shenxiaoyan |m 20050106 14:37:46 |G shenxiaoyan |g 20050106 14:38:2