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• 200 1_ |a 微电子器件可靠性 |A wei dian zi qi jian ke kao xing |f 史保华，贾新章，张德胜编著

• 210 __ |a 西安 |c 西安电子科技大学出版社 |d 1999

• 215 __ |a 182页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 高等学校电子信息类规划教材 |A Gao Deng Xue Xiao Dian Zi Xin Xi Lei Gui Hua Jiao Cai |i 研究生系列教材

• 300 __ |a 西安电子科技大学研究生教材建设基金资助

• 410 _0 |1 2001 |a 高等学校电子信息类规划教材

• 410 _0 |1 2001 |a 研究生系列教材

• 606 0_ |a 微电子技术 |A Wei Dian Zi Ji Shu |x 电子器件 |x 可靠性理论 |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a TN406 |v 3

• 690 __ |a TN406 |v 4

• 692 __ |a 73.7514 |v 2

• 701 _0 |a 史保华 |A Shi Baohua |c (材料分析) |3 CAL n2004053444# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 701 _0 |a 贾新章 |A Jia Xinzhang |4 编著 |3 CAL n2004246082# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 701 _0 |a 张德胜 |A Zhang Desheng |c (电子学) |4 编著 |3 CAL n2004459712# |7 jt0yjt0y |7 ec0yec0y

• 801 _0 |a CN |b NLC |c 19990628

• 801 _2 |a CN |b NUL |c 20010905

• 905 __ |a XATU |d TN406/1

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