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• 000 01292nam2 2200349 4500

• 000 0000075387

• 001 0000061607

• 005 20030506170636.0

• 010 __ |a 7-5024-2111-4 |d CNY68.00

• 021 __ |a CN |b 01-98-1068

• 092 __ |b SY-D006-1467

• 100 __ |a 20030502e20021998em y0chiy0121 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 10 |a 材料评价的高分辨电子显微方法 |9 Cailiaopingjiadegaofenbiandianzixianweifangfa |P CLPJDGFBDZXWFF |f (日)进藤大辅, (日)平贺贤二著 |g 刘安生译

• 210 __ |a 北京 |c 冶金工业出版社 |d 1998 |h 2002重印

• 215 __ |a 186页 |c 图 |d 26cm

• 330 __ |a 本书用较大的篇幅介绍了高分辨电子显微法在材料评价中的应用，叙述的重点是各种晶体缺陷和每种材料的结构特征，介绍了它们的观察方法和对像的解释。

• 606 0_ |a 工程材料 |x 高分辨电子显微术 |A Gongchengcailiao

• 606 0_ |a 高分辨电子显微术 |A Gaofenbiandianzixianweishu

• 690 __ |a TB303 |v 4

• 701 _0 |a 进藤大辅 |e 日 |4 著 |9 Jintengdafu

• 701 _0 |a 平贺贤二 |e 日 |4 著 |9 Pinghexianer

• 702 _0 |a 刘安生 |4 译 |9 Liuansheng

• 801 _3 |a CN |b CDSY |c 20020607

• 801 _2 |a CN |b 261060 |c 20030506

• 905 __ |a XATU |d TB303/14

• 991 __012003005415

• 995 __ |a 261060 |f TB303/14

• 999 __ |t C |A shxy |a 20030502 09:19:34 |M shxy |m 20030502 09:29:12 |I zw |i 20030506 17:06:36 |G zw |g 20030506 17:06:4