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• 000 01661nam0 2200541 450

• 001 0000297633

• 005 20180711144700.0

• 010 __ |a 978-7-5606-4602-2 |d CNY29.00

• 099 __ |a CAL 012017179544

• 100 __ |a 20171106d2017 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 610000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 高速复杂互连的串扰故障测试技术 |A gao su fu za hu lian de chuan rao gu zhang ce shi ji shu |f 尚玉玲, 李春泉著

• 210 __ |a 西安 |c 西安电子科技大学出版社 |d 2017

• 215 __ |a 184页 |c 图 |d 23cm

• 320 __ |a 有书目 (第170-184页)

• 330 __ |a 本书系统、深入地介绍了高速复杂互连的串扰测试基本理论、原理、技术与方法, 主要涉及三方面: 高速复杂互连线串扰测试、高速复杂互连结构串扰测试、告诉互连通路串扰故障的ATPG技术。以非理想互联线的渐进式串扰故障、复杂拓扑结构的串扰故障测试技术为核心, 论述了复杂互连线串扰测试方法等。

• 606 0_ |a 码间串扰 |A ma jian chuan rao |x 故障检测

• 690 __ |a TN911.4 |v 5

• 701 _0 |a 尚玉玲 |A shang yu ling |4 著

• 701 _0 |a 李春泉 |A li chun quan |4 著

• 801 _0 |a CN |b 261080 |c 20171215

• 905 __ |a XATU |d TN911.4/4

• 920 __ |a 261011 |z 1

• 920 __ |a 221020 |z 1

• 920 __ |a 211060 |z 2

• 920 __ |a 212020 |z 1

• 920 __ |a 231231 |z 1

• 920 __ |a 231020 |z 1

• 920 __ |a 242120 |z 1

• 920 __ |a 245010 |z 1

• 920 __ |a 261020 |z 1

• 920 __ |a 261030 |z 1

• 920 __ |a 231220 |z 2

• 920 __ |a 222010 |z 1

• 920 __ |a 242020 |z 1

• 920 __ |a 232370 |z 1

• 920 __ |a 211030 |z 1

• 920 __ |a 243160 |z 1

• 920 __ |a 211070 |z 1

• 920 __ |a 232020 |z 1

• 920 __ |a 212010 |z 1

• 920 __ |a 251010 |z 1

• 920 __ |a 244010 |z 1

• 920 __ |a 211261 |z 1

• 998 __ |a XUST