机读格式显示(MARC)

• 000 01892nam0 2200349 450

• 001 0000184100

• 005 20131120161400.0

• 010 __ |a 978-7-118-08091-9 |d CNY42.00

• 035 __ |a (A100000NLC)006353509

• 100 __ |a 20121130d2012 em y0chiy0110 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 材料现代分析技术 |A Cai Liao Xian Dai Fen Xi Ji Shu |b 专著 |f 朱和国，杜宇雷，赵军编著

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 2012

• 215 __ |a XIII,346页 |c 图，照片 |d 26cm

• 225 2_ |a 普通高等教育材料科学与工程“十二五”规划教材 |A Pu Tong Gao Deng Jiao Yu Cai Liao Ke Xue Yu Gong Cheng “shi Er Wu ”gui Hua Jiao Cai

• 312 __ |a 封面英文题名：Advanced analysis methods for materials

• 330 __ |a 本书首先介绍了晶体学基础知识，然后介绍了X射线的物理基础、X射线衍射的方向与强度、多晶体X射线衍射分析的方法、X射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析等方面的应用；介绍了电子衍射的物理基础、透射电子显微镜的结构与原理、衍射成像、运动学衬度理论、高分辨透射电子显微技术、扫描电子显微镜的结构与原理、电子探针及其应用；介绍了X射线光电子能谱仪(XPS)、扫描隧道电镜(STM)、低能电子衍射(LEED)等常用表面分析技术和热重分析法(TG)、差热分析法(DTA)、差示扫描量热法(DSC)等常用热分析技术的原理、特点及其应用；最后简要介绍了光谱分析技术。

• 410 _0 |1 2001 |a 普通高等教育材料科学与工程“十二五”规划教材 |A Pu Tong Gao Deng Jiao Yu Cai Liao Ke Xue Yu Gong Cheng “shi Er Wu ”gui Hua Jiao Cai

• 510 1_ |a Advanced analysis methods for materials |z eng

• 606 0_ |a 工程材料 |A Gong Cheng Cai Liao |x 分析方法 |x 高等教育 |j 教材

• 606 0_ |a 工程材料 |A Gong Cheng Cai Liao

• 606 0_ |a 分析方法 |A Fen Xi Fang Fa

• 690 __ |a TB302 |v 5

• 701 _0 |a 朱和国 |A Zhu He Guo |4 编著

• 701 _0 |a 杜宇雷 |A Du Yu Lei |4 编著

• 701 _0 |a 赵军 |A Zhao Jun |c (材料) |4 编著

• 801 _2 |a CN |b OLCC |c 20130227

• 905 __ |a XATU |d TB302/17

• 920 __ |a 261060 |z 1