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• 000 02071cam 2200661 450

• 001 0000273094

• 005 20180625104700.0

• 010 __ |a 978-7-312-03749-8 |d CNY99.00

• 100 __ |a 20170330d2017 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 340000

• 105 __ |a ak a 001yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 材料的透射电子显微学与衍射学 |A Cai Liao De Tou She Dian Zi Xian Wei Xue Yu Yan She Xue |d = Transmission electron microscopy and diffractometry of materials |f (美) 布伦特·福尔兹, 詹姆斯·豪著 |g 吴自勤 ... [等] 译 |z eng

• 210 __ |a 合肥 |c 中国科学技术大学出版社 |d 2017

• 215 __ |a 657页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 物理学名家名作译丛 |A Wu Li Xue Ming Jia Ming Zuo Yi Cong

• 300 __ |a “十三五”国家重点图书出版规划项目

• 314 __ |a 责任者Fultz规范汉译姓: 富尔茨

• 320 __ |a 有书目和索引

• 330 __ |a 本书介绍了XRD,TEM和中子散射仪器的结构，以及电子、X射线和原子的相互作用等内容。

• 333 __ |a 物理科学的大学生和研究生

• 410 _0 |1 2001 |a 物理学名家名作译丛

• 510 1_ |a Transmission electron microscopy and diffractometry of materials |z eng

• 606 0_ |a 工程材料 |A Gong Cheng Cai Liao |x 透射电子显微术

• 606 0_ |a 工程材料 |A Gong Cheng Cai Liao |x X射线衍射

• 690 __ |a TB302 |v 5

• 701 _1 |a 富尔茨 |A fu er ci |g (Fultz, Brent) |4 著

• 701 _1 |a 豪 |A Hao |g (Howe, James) |4 著

• 702 _0 |a 吴自勤 |A Wu Zi Qin |4 译

• 801 _0 |a CN |b NUL |c 20170515

• 801 _2 |a CN |b PUL |c 20170518

• 905 __ |a XATU |d TB302/31

• 920 __ |a 211010 |z 1

• 920 __ |a 232010 |z 1

• 920 __ |a 231020 |z 1

• 920 __ |a 261011 |z 1

• 920 __ |a 232020 |z 1

• 920 __ |a 231030 |z 1

• 920 __ |a 221020 |z 1

• 920 __ |a 242020 |z 1

• 920 __ |a 237020 |z 1

• 920 __ |a 261030 |z 1

• 920 __ |a 212020 |z 1

• 920 __ |a 245010 |z 1

• 920 __ |a 211030 |z 1

• 920 __ |a 261161 |z 1

• 920 __ |a 244010 |z 1

• 920 __ |a 231010 |z 1

• 920 __ |a 237010 |z 1

• 920 __ |a 211060 |z 2

• 920 __ |a 235010 |z 1

• 920 __ |a 430102 |z 1

• 920 __ |a 251010 |z 1

• 920 __ |a 241010 |z 1

• 920 __ |a 211070 |z 1

• 920 __ |a 242010 |z 1

• 998 __ |a NUL