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• 200 1_ |a 电磁兼容及系统整机测试技术 |A Dian Ci Jian Rong Ji Xi Tong Zheng Ji Ce Shi Ji Shu |f 尚开明主编

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2013

• 215 __ |a 149页 |d 26cm

• 330 __ |a 本书主要分两部分介绍测试的相关技术。第一部分是硬件测试的相关技术；第二部分是软件测试的相关技术。硬件测试技术介绍了常见的硬件测试项目，说明测试标准及方法；软件测试技术主要从测试计划、测试用例的设计和测试的规划上着手进行分析，通过对BUG的分析和阐述，正确规避风险，并对风险进行分析，最终形成财富库，供测试人员共享。

• 606 0_ |a 电磁兼容性 |A Dian Ci Jian Rong Xing |x 测试技术

• 690 __ |a TN03 |v 5

• 701 _0 |a 尚开明 |A Shang Kai Ming |4 主编

• 801 _0 |a CN |b 嘉汇汉唐QPY

• 905 __ |a XATU |d TN03/37

• 920 __ |a 261060 |z 1