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• 200 1_ |a 伪集成电路检测与防护 |A Wei Ji Cheng Dian Lu Jian Ce Yu Fang Hu |d Counterfeit integrated circuits: detection and avoidance |f (美)马克(穆罕默德)·德黑兰尼普尔(Mark (Mohammad) Tehranipoor)，(美)乌杰瓦尔·吉恩(Ujjwal Guin)，(美)多梅尼克·福特(Domenic Forte)著 |g 李雄伟[等]译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 2022

• 215 __ |a 20,227页 |c 图 |d 24cm

• 300 __ |a 装备科技译著出版基金 Springer

• 305 __ |a 由Springer授权出版

• 330 __ |a 本书从伪集成电路的案例分析、分类、缺陷特征、物理检测和电子检测、防伪设计等多个方面进行了研究和阐述。

• 510 1_ |a Counterfeit integrated circuits |e detection and avoidance |z eng

• 606 0_ |a 集成电路 |A Ji Cheng Dian Lu |x 检测

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _0 |c (美) |a 德黑兰尼普尔 |A De Hei Lan Ni Pu Er |c (Tehranipoor, Mark Mohammad) |4 著

• 701 _0 |c (美) |a 吉恩 |A Ji En |c (Guin, Ujjwal) |4 著

• 701 _0 |c (美) |a 福特 |A Fu Te |c (Forte, Domenic) |4 著

• 702 _0 |a 李雄伟 |A Li Xiong Wei |4 译

• 801 _2 |a CN |b OLCC |c 20221015

• 905 __ |a XATU |d TN407/14

• 920 __ |a 261060 |z 1