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• 010 __ |a 978-7-03-038824-7 |d CNY80.00

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• 200 1_ |a 可靠性物理与工程 |A ke kao xing wu li yu gong cheng |e 失效时间模型 |d = Reliability physics and engineering |e time-to-failure modeling |f (美) J.W. 麦克弗森著 |g 秦飞 ... [等] 译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2013

• 215 __ |a 245页 |c 图 |d 24cm

• 330 __ |a 本书以材料/器件退化为主线，系统总结了集成电路与电子器件、机械零部件等的典型失效模式，并着重阐述失效的物理机理，提出具有普适性的、简单实用的失效时间预测模型。本书首先讨论了描述材料/器件性能退化的模型、失效时间的定义和失效时间模型；然后讨论了失效时间的统计方法和失效率模型，用于加速测试的斜坡测试法和加速因子模型；重点讨论了集成电路与器件、机械零部件等的典型失效机理及其失效时间模型；最后讨论了动应力转化为有效静应力的方法和器件可靠性设计的改进方法。

• 500 10 |a Reliability physics and engineering : time-to-failure modeling |A Reliability Physics And Engineering : Time-to-failure Modeling |m Chinese

• 517 1_ |a 失效时间模型 |A shi xiao shi jian mo xing

• 606 0_ |a 失效物理 |A shi xiao wu li |x 研究

• 690 __ |a TB114.2 |v 5

• 701 _1 |a 麦克弗森 |A mai ke fu sen |g (McPherson, Joe W.) |4 著

• 702 _0 |a 秦飞 |A qin fei |4 译

• 801 _0 |a CN |b 浙江省新华书店集团公司 |c 20131126

• 905 __ |a XATU |d TB114.2/28

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