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• 092 __ |b 百万庄13423000526

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• 200 1_ |a 集成电路测试指南 |A ji cheng dian lu ce shi zhi nan |f 加速科技组编 |g 邬刚, 王瑞金, 包军林编著

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2021

• 215 __ |a XIII, 257页 |c 图 |d 24cm

• 330 __ |a 本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。本书最大的特点是理论与实践的相结合，避免了“纸上谈兵”。通过本书的学习，读者可以对集成电路测试有一个全面的认识，快速进入半导体集成电路测试工程领域。

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 电路测试 |j 指南

• 690 __ |a TN407 |v 5

• 701 _0 |a 邬刚 |A wu gang |4 编著

• 701 _0 |a 王瑞金 |A wang rui jin |4 编著

• 701 _0 |a 包军林 |A bao jun lin |4 编著

• 712 02 |a 加速科技 |A jia su ke ji |4 组编

• 801 _0 |a CN |b 百万庄 |c 20210702

• 905 __ |a XATU |d TN407/11

• 920 __ |a 261060 |z 1

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