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• 200 1_ |a 电子元器件检验技术 |A Dian Zi Yuan Qi Jian Jian Yan Ji Shu |e 试验部分 |f 王晓晗，罗宏伟编著

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2019

• 215 __ |a 11,369页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 可靠性技术丛书 |A Ke Kao Xing Ji Shu Cong Shu

• 304 __ |a 工业和信息化部电子第五研究所组编

• 330 __ |a 本书共五章，内容包括：寿命试验技术、环境试验技术、空间环境试验技术、物理试验技术、DPA技术及结构分析技术。

• 410 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书

• 606 0_ |a 电子元器件 |A Dian Zi Yuan Qi Jian |x 检测

• 690 __ |a TN6 |v 5

• 701 _0 |a 王晓晗 |A wang xiao han |4 编著

• 701 _0 |a 罗宏伟 |A luo hong wei |4 编著

• 801 _2 |a CN |b OLCC |c 20190404

• 905 __ |a XATU |d TN6/65

• 920 __ |a 261060 |z 1