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• 200 1_ |a 半导体器件可靠性与失效分析 |9 bandaotiqijiankekaoxingyushixiaofenxi |f 卢其庆著

• 210 __ |a 南京 |c 江苏科学技术出版社 |d 1981

• 215 __ |a 278页 |c 图 |d 26cm

• 300 __ |a 高等学校试用教材

• 690 __ |a TN306 |v 4版

• 701 _0 |a 卢其庆 |4 著 |9 luqiqing

• 801 _0 |a CN |b 261060 |c 20060530

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