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• 200 1_ |a 硬件电路与产品可靠性设计 |A ying jian dian lu yu chan pin ke kao xing she ji |f 朱波编著

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2022

• 215 __ |a 258页 |c 图 |d 24cm

• 330 __ |a 本书共分为6章：第1章是器件选型可靠性设计，讲述了器件选型原则、器件失效分析、元器件筛选方法、供应商管理方法；第2章从电路简化设计、接口防护、电路耐环境设计等方面阐述了硬件可靠性设计；第3章梳理了产品的硬件测试，分别讲述了信号质量测试、信号时序测试、硬件功能测试和硬件性能测试；第4章叙述了PCB可靠性设计，讲解了PCB器件布局和PCB走线设计；第5章从研发过程可靠性评审来解读产品可靠性设计，重点讲解了产品研发各阶段的评审内容；第6章以一款手持智能终端的设计为具体案例，讲述了产品的研发过程和产品可靠性设计要点。

• 606 0_ |a 硬件 |A Ying Jian |x 电子电路 |x 电子产品可靠性 |x 电路设计

• 690 __ |a TN702 |v 5

• 701 _0 |a 朱波 |A Zhu Bo |4 编著

• 801 _0 |a CN |b NEU |c 20221126

• 905 __ |a XATU |d TN702/213

• 920 __ |a 261060 |z 1

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