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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 材料分析技术 |9 cai liao fen xi ji shu |b 专著 |d Materials characterization techniques |f (新)Sam Zhang，(新)Lin Li，(新)Ashok Kumar著 |g 刘东平[等]译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2010

• 215 __ |a 265页 |c 图 |d 24cm

• 304 __ |a 译者还有：王丽梅、牛金海、于乃森

• 330 __ |a 本书共十一章，分别是接触角在表面分析中的应用、X射线光电子能谱和俄歇电子能谱、扫描隧道显微镜和原子力显微镜、X射线衍射、透射电子显微镜、扫描电子显微镜、色谱分析、红外光谱及紫外一可见光谱、宏观和微观热分析以及激光共焦荧光显微镜等。

• 510 1_ |a Materials characterization techniques |z eng

• 606 0_ |a 工程材料 |x 分析方法 |x 研究 |A gongchengcailiao

• 690 __ |a TB3 |v 4

• 701 _0 |c (新) |a 张善勇 |9 zhang shan yong |c (Zhang, Sam) |4 著

• 701 _0 |c (新) |a Li |4 著 |9 Li

• 701 _0 |c (新) |a Kumar |4 著 |9 Kumar

• 702 _0 |a 刘东平 |9 liu dong ping |4 译

• 801 _0 |a CN |b 110017 |c 20101122

• 801 _2 |a CN |b 261060 |c 20110511

• 905 __ |a XATU |d TB3/218

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• 999 __ |t C |A cuixiaojing |a 20110511 10:27:18 |M cuixiaojing |m 20110511 10:48:4