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• 010 __ |a 978-7-03-067328-2 |d CNY98.00

• 099 __ |a CAL 012021076035

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• 200 1_ |a 纳米级系统芯片单粒子效应研究 |A na mi ji xi tong xin pian dan li zi xiao ying yan jiu |f 贺朝会[等]著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2021

• 215 __ |a 191页 |c 图 |d 24cm

• 304 __ |a 题名页题其余责任者: 杜雪成, 杨卫涛, 杜小智

• 320 __ |a 有书目 (第181-191页)

• 330 __ |a 本书主要介绍了28nm系统芯片的单粒子效应, 主要包括国内外研究现状, SoC单粒子效应测试系统的建立, α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究, SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应加固方法研究。期望为国产纳米级SoC的研发和空间应用提供技术参考。

• 606 0_ |a 集成芯片 |A ji cheng xin pian |x 单粒子态 |x 研究

• 690 __ |a TN430.3 |v 5

• 701 _0 |a 贺朝会 |A he zhao hui |4 著

• 701 _0 |a 杜雪成 |A du xue cheng |4 著

• 701 _0 |a 杨卫涛 |A yang wei tao |4 著

• 701 _0 |a 杜小智 |A du xiao zhi |4 著

• 801 _0 |a CN |b 人天书店 |c 20210621

• 905 __ |a XATU |d TN430.3/1

• 920 __ |a 261060 |z 1

• 921 __ |a BMQZ |b RTBOOK

• 998 __ |a RTBOOK