机读格式显示(MARC)
- 000 01907nam0 2200517 450
- 010 __ |a 978-7-5641-4370-1 |d CNY44.80
- 099 __ |a CAL 012013124807
- 100 __ |a 20130912d2013 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 材料科学研究与测试方法 |A cai liao ke xue yan jiu yu ce shi fang fa |f 朱和国, 王新龙编著
- 210 __ |a 南京 |c 东南大学出版社 |d 2013
- 215 __ |a 343页 |c 图 |d 26cm
- 300 __ |a 普通高等教育“十一五”国家级规划教材
- 320 __ |a 有书目 (第340-343页)
- 330 __ |a 本书首先介绍了晶体学基础知识,然后系统介绍了X射线的物理基础、X射线衍射的方向与强度、多晶体X射线衍射分析的方法、X射线衍射仪及其在物相鉴定、宏微观应力与晶粒尺寸的测定、多晶体的织构分析、小角x射线散射等方面的应用;介绍了电子衍射的物理基础、透射电子显微镜的结构与原理、衍射成像、运动学衬度理论、高分辨透射电子显微技术、扫描电子显微镜的结构与原理、电子探针及其应用;介绍了AES、XPS、STM、AFM、LEED等常用表面分析技术和TG、DTA、DSC等常用热分析技术的原理、特点及其应用;最后简要介绍了红外光谱和拉曼光谱等。
- 606 0_ |a 材料科学 |A Cai liao ke xue |x 研究方法 |x 高等学校 |j 教材
- 606 0_ |a 工程材料 |A Gong cheng cai liao |x 测试 |x 高等学校 |j 教材
- 701 _0 |a 朱和国 |A zhu he guo |4 编著
- 701 _0 |a 王新龙, |A wang xin long |f 1965- |4 编著
- 801 _0 |a CN |b 北京图书大厦有限责任公司 |c 20130906
- 905 __ |a XATU |d TB3/286=2