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• 010 __ |a 7-118-03761-3 |b 精装 |d CNY40.00

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• 200 1_ |a 半导体器件和集成电路的辐射效应 |d = Radiation effects on semiconductor devics and integrated circuits |f 陈盘训著 |9 bandaotiqijianhejichengdianludefushexiaoying

• 210 __ |a 北京 |c 国防工业出版社 |d 2005

• 215 __ |a 26, 400页 |c 图 |d 21cm

• 225 2_ |a 中国工程物理研究院科技丛书 |v 044 |9 zhongguogongchengwuliyanjiuyuankejicongshu

• 320 __ |a 有书目 (第397-398页)

• 330 __ |a 本书较为全面地介绍了各类典型半导体器件和集成电路在核辐射和空间辐射环境下的损伤机理和效应。主要内容包括: 国内外核辐射效应发展简史、研究对象和方法, 核爆炸、空间、模拟源和核动力等辐射环境分析等。

• 461 _0 |1 2001 |a 中国工程物理研究院科技丛书

• 510 1_ |a Radiation effects on semiconductor devics and integrated circuits |z eng

• 606 0_ |a 半导体器件 |x 辐射效应 |A bandaotiqijian

• 606 0_ |a 集成电路 |x 辐射效应 |A jichengdianlu

• 690 __ |a TL7 |v 4

• 701 _0 |a 陈盘训 |4 著 |9 chenpanxun

• 801 _0 |a CN |b RENTIAN |c 20050805

• 801 _2 |a CN |b 261060 |c 20061203

• 905 __ |a XATU |d TL7/2

• 991 __012006015655

• 995 __ |a 261060 |f TL7/2

• 999 __ |t C |A zn |a 20061202 09:45:52 |M zn |m 20061202 09:46:58 |I zw |i 20061203 09:43:5