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- 010 __ |a 978-7-308-21953-2 |d CNY78.00
- 049 __ |a O340101SDP |b UCS01010958079 |c 010958079
- 100 __ |a 20220323d2022 em y0chiy50 ea
- 200 1_ |a 光电材料表征技术 |A Guang Dian Cai Liao Biao Zheng Ji Shu |f 季振国等著
- 210 __ |a 杭州 |c 浙江大学出版社 |d 2022
- 215 __ |a 231页 |c 图 |d 25cm
- 312 __ |a 封面英文题名:Characterization technologies for optoelectronic materials
- 330 __ |a 本书主要介绍光电材料涉及的表征技术,并以大量实例辅助说明。全书分为元素成分分析、元素价态分析、晶体结构分析、表面形貌分析、薄膜厚度测量、光学性能测量、电学性能测量等部分。本书从材料研究人员角度出发介绍材料表征技术,重在介绍各种技术在材料领域的应用,以用为主,具有较强的科学性和实用性。
- 510 1_ |a Characterization technologies for optoelectronic materials |z eng
- 606 0_ |a 光电材料 |A Guang Dian Cai Liao |x 研究
- 701 _0 |a 季振国 |A Ji Zhen Guo |4 著
- 801 _2 |a CN |b OLCC |c 20220421
- 801 _2 |a CN |b O340101SDP |c 20220401
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- 905 __ |a XATU |d TN204/22