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• 200 1_ |a 半导体器件及电路的可靠性与退化 |f (英)豪斯,M.J.摩根,D.V主编 |g 李锦林等译

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 1989.10

• 215 __ |a 463页 |d 20cm

• 690 __ |a TN306 |v 三版

• 700 _0 |a 豪斯,M.J. |4 主编

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